Ausstattung
Die Ausstattung der Abteilung „Instrumentelle Strukturanalytik“ umfasst verschiedene Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie.
Transmissionselektronenmikroskop
Foto: Hereon/allgemein
Tecnai G2 F20 (Fei)
• 200kV, Feldemissionskathode
• EFTEM, EELS (GIF2002, Fa. Gatan)
• STEM
• EDX-Analyse (Fa. EDAX)
• HAADF (Fa. Fischione)
• Kryo-Probenhalter
• Tomographie
Rasterelektronenmikroskop
Foto: Hereon/allgemein
Merlin (Zeiss)
• 30kV, Feldemissionskathode
• Detektoren: SE, BSE, EsB, STEM
• EDX
Rasterelektronenmikroskop
Foto: Hereon/allgemein
LEO Gemini 1550 VP (Zeiss)
• 30kV, FEG
• Detektoren: SE, BSE
• EDX-Analyse (Fa. EDAX)
Rasterkraftmikroskop
Foto: Hereon/allgemein
MultiMode 8 (Bruker)
• Nanoscope Controller V
• Messmodi
- Tapping Mode®
- Contact Mode
- PeakForce Modes
- ScanAsystTM
- Conductive AFM
- Kelvin Probe AFM
- Tunneling AFM
• Zubehör
- Temperature Control: -35°C to 250°C
- Fluid cell, Gas cell
- ScanAsystTM HR
Leica-Lichtmikroskop
, Foto: Hereon/allgemein
Leica DMLM
• Auflicht/Durchlicht
• Objektive: 10x, 20x, 50x, 100x
• Phasenkontrast
• Heiz-/Kühltisch
• Temperaturcontroller TMS94 (Fa. Linkam)
-196°C bis 600°C
Raman-Mikroskop (dispersiv)
Foto: Hereon/allgemein
Senterra (Bruker)
• Anregungswellenlänge: 785nm und 532nm
• Objektive: 10x, 20x, 50x, 100x